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圖像分析型粒度分布測(cè)量軟件 Mac-View第五版本的特點(diǎn)
結(jié)合各種識(shí)別工具,實(shí)現(xiàn)對(duì)所有粒子的測(cè)量和分析
通過(guò)讀取 SEM 或 TEM 拍攝的圖像并識(shí)別目標(biāo)顆粒,自動(dòng)計(jì)算粒徑分布并量化顆粒形狀。
通過(guò)使用手寫(xiě)板的手動(dòng)分析工具,可以輕松識(shí)別形狀復(fù)雜的顆粒和聚集顆粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改進(jìn)
-粒子采集模式新增“針狀”
?提高自動(dòng)識(shí)別處理速度
■ 聚集粒子的一次粒徑分析
可以評(píng)價(jià)凝集粒子的一次粒徑,這在過(guò)去是困難的。
■ 納米粒子的評(píng)價(jià)
只要有尺度信息,無(wú)論粒度如何,都可以進(jìn)行分析。
■ 多方面的分析/評(píng)估
可以自動(dòng)測(cè)量粒度分布并分析顆粒形狀(圓形度、縱橫比等)。此外,可用數(shù)據(jù)豐富,可以評(píng)估聚集粒子的初級(jí)粒子。
■ 操作簡(jiǎn)單
無(wú)需專業(yè)知識(shí),操作簡(jiǎn)單,工人的熟練程度無(wú)關(guān)緊要。
■ 無(wú)需昂貴的資本投資
只要您準(zhǔn)備好圖像(jpeg、位圖),您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。
納米粒子、聚集粒子、粒狀體、燒結(jié)體截面、乳化粒徑等
■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一款全新維度的綜合粉體分析軟件,可以對(duì)任何方法測(cè)得的“粒度分布數(shù)據(jù)”進(jìn)行集中管理和分析。
■ 篩分試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh
Macmesh 是一款通過(guò)大量數(shù)據(jù)消除篩選測(cè)試中的人為錯(cuò)誤并高效工作的工具。